MAP-200 mORL/mIL 插損/回?fù)p測試解決方案

主要優(yōu)點(diǎn)

•      使供應(yīng)效率增加4倍

•      所需空間為其他測試平臺的25%

•      可擴(kuò)展至高成長性、高性能新應(yīng)用，例如40/100 G數(shù)據(jù)中心市場

•      模塊化平臺可根據(jù)需要在預(yù)算允許范圍內(nèi)擴(kuò)展

•      通過端口映射在15秒以內(nèi)驗證多芯光纖MPO組件的連通性及雙向性能

•      *支持快速增長的MPO和MTP多光纖連接器的測試

應(yīng)用

•      對光連接器和光纜組件、結(jié)構(gòu)化布線解決方案和光分路器的插損/回?fù)p/長度進(jìn)行測試

•      對多芯光纖組件（例如MPO）進(jìn)行自動測試

•      單模和多模光纖測試解決方案

•      對大型多芯光纖組件的連通及雙向性能指標(biāo)進(jìn)行驗證

MAP-200 mORL/mIL 插損/回?fù)p測試解決方案

對于連接密集型中心局、數(shù)據(jù)中心和光分配網(wǎng)絡(luò)至關(guān)重要。在遠(yuǎn)程通信、數(shù)據(jù)通信、無線回傳和FTTx之外，在海洋、航空電子和軍事應(yīng)用繼續(xù)大幅增加的同時，新式超級計算應(yīng)用也在不斷涌現(xiàn)。所有這些市場都是由更高的帶寬要求推動的。出于必要，市場上不斷推出新的連接器規(guī)格，這是由降低安裝成本、加快部署的需求推動的。

但這些連接點(diǎn)的質(zhì)量和光性能往往被忽視。插損和回?fù)p（IL和RL）不佳可能會對網(wǎng)絡(luò)性能造成深遠(yuǎn)影響。性能不佳會直接影響接入和可靠性，甚至?xí)璧K技術(shù)升級之路。同時，經(jīng)濟(jì)因素也要求提供商繼續(xù)降低成本、加快供應(yīng)并縮短上市時間。